TEM mikroskobu günümüzde kullanılan en kuvvetli elektron mikroskobudur. Kolay bir kullanımının yanında görüntüleme kararlılığı ve 100 ~ 500 kilovolt faz aralığı ile pek çok araştırma laboratuarının birinci tercihidir. Cihaz 0.14 nanometreye kadar gösterim gücüne sahiptir. Bu yöntemde elektronların dağılımına bakılarak malzemenin manyetik yapısı hakkında bilgi edinilir.
Bu yöntemin ‘‘taramalı elektron mikroskobu(SEM)’’ yönteminden farkı, TEM’de elektron demetinin numune malzemenin içinden geçerek yol almasıdır. Elektron demeti kaynaktan yayıldıktan sonra mercekler aracılığıyla numuneye odaklanır. Numuneye gelen elektron demeti malzemenin içinden geçerek malzemenin yapısı ile alakalı görüntü oluştururlar.
Geçirmeli elektron mikroskobu (GEM) diye de isimlendirilen TEM 19382’de ilk kez ticari olarak Siemens tarafından üretildi. Transmission elektron mikroskobu, atom düzeyinde görüntü elde edebilen hassas bir yöntem ve cihazdır.
Bu mikroskopta elektron demeti incelenmek istenilen numunenin içinden geçirildiğinden, numunenin çok ince olması gerekmektedir. İncelenen malzeme çok ince olduğu zaman da malzemenin temel özelliklerini yansıtmayabiliyordu. Bununla bir başka sorun da numuneden geçen elektron demetinin çok kısa bir sürede soğruluyor olmasıydı.
Bu yöntemde kullanılan elektron demetindeki elektronların enerjisi 100 ~ 500 kilovolt civarlarında değişir. Yüksek enerjili elektron demeti, birtakım manyetik mercek sistemlerinden geçtikten sonra numune üzerine odaklanır, malzemeden geçtikten sonra yine manyetik mercek sistemlerinden geçer ve ekrana yansıtılır. TEM’in yapısı şematik olarak şekilde gösterilmiştir.
![[Resim: Screenshot_11-1.png]](https://www.makineturk.net/wp-content/uploads/2020/02/Screenshot_11-1.png)
Bu problemlerin çözümü için yüksek voltajlı elektron mikroskopları yapıldı. 1959’da G. Duppoy ve arkadaşları ilk yüksek voltajlı elektron mikroskobunu tasarladılar. Bu mikroskoplarda istenen kalitede görüntü elde edilebilmesi için çok yüksek gerilimler(1-3 milyon volt gibi) kullanılmaktaydı.
Geçirmeli elektron mikroskobunda elektronların, numunenin içinden geçip gidebilmesi için malzeme kalınlığı birkaç yüz nm’yi geçmemelidir. Dolayısıyla TEM görüntüsü alınacak numuneler itinayla hazırlanmalıdır.
Benzer Konular:
Linkleri görebilmek için sitemize üye ol manız veya giriş yapmanız gerekiyor. (Sitemize üyelikler ücretsizdir!)
Nanoteknolojinin Tarihsel Gelişimi
Nanomalzemelerde Safsızlık Nedir?
Linkleri görebilmek için sitemize üye ol manız veya giriş yapmanız gerekiyor. (Sitemize üyelikler ücretsizdir!)